Lidia Łukasiak : rechercher sur Z-Library

Campagne de collecte 15 septembre 2024 – 1 octobre 2024 C'est quoi, la collecte de fonds?

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Campagne de collecte 15 septembre 2024 – 1 octobre 2024

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Les téléchargements SANS LIMITE sont aussi (au cours de 31 jours après la date de don) disponibles pour TOUS les utilisateurs qui soient en mesure de soutenir le projet pendant la période de collecte de fonds jusqu'au 1 octobre 2024.

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Articles (16)
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1

Studies of the quality of GdSiO–Si interface

Marcin Iwanowicz, Jakub Jasiński, Grzegorz Głuszko, Lidia Łukasiak, Andrzej Jakubowski, Heinrich Gottlob, Mathias Schmidt

Journal:

Microelectronics Reliability

Année:

2011

Langue:

english

Fichier:

PDF, 580 KB

english, 2011

2

New threshold voltage definition for undoped symmetrical DG MOSFET

Paweł Sałek, Lidia Łukasiak, Andrzej Jakubowski

Journal:

Microelectronics Reliability

Année:

2012

Langue:

english

Fichier:

PDF, 290 KB

english, 2012

3

A review of SOI transistor models

Małgorzata Jurczak, Andrzej Jakubowski, Lidia łukasiak

Journal:

Microelectronics Journal

Année:

1997

Langue:

english

Fichier:

PDF, 618 KB

english, 1997

4

WITHDRAWN: Preface

Majkusiak, Bogdan, Łukasiak, Lidia, Normand, Pascal

Journal:

Microelectronic Engineering

Année:

2013

Langue:

english

Fichier:

PDF, 170 KB

english, 2013

5

[IEEE 2011 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD) - Osaka, Japan (2011.09.8-2011.09.10)] 2011 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices - Sticking coefficient of hydrogen radicals on ArF photoresist estimated by parallel plate structure in conjunction with numerical analysis

Malinowski, Arkadiusz, Sekine, Makoto, Hori, Masaru, Ishikawa, Kenji, Kondo, Hiroki, Suzuki, Toshiya, Takeuchi, Takuya, Yamamoto, Hiroshi, Jakubowski, Andrzej, Lukasiak, Lidia, Tomaszewski, Daniel

Année:

2011

Langue:

english

Fichier:

PDF, 890 KB

english, 2011

6

Non-Standard FinFET Devices for Small Volume Sample Sensors

Zaborowski, Michal, Tomaszewski, Daniel, Łukasiak, Lidia, Jakubowski, A.

Journal:

Advanced Materials Research

Année:

2011

Langue:

english

Fichier:

PDF, 1.61 MB

english, 2011

7

A novel fast and flexible technique of radical kinetic behaviour investigation based on pallet for plasma evaluation structure and numerical analysis

Malinowski, Arkadiusz, Takeuchi, Takuya, Chen, Shang, Suzuki, Toshiya, Ishikawa, Kenji, Sekine, Makoto, Hori, Masaru, Lukasiak, Lidia, Jakubowski, Andrzej

Journal:

Journal of Physics D Applied Physics

Année:

2013

Langue:

english

Fichier:

PDF, 1.52 MB

english, 2013

8

SPIE Proceedings [SPIE Electron Technology Conference 2013 - Ryn, Poland (Tuesday 16 April 2013)] Electron Technology Conference 2013 - Electrical characterization of GaN-channel MOSFETs

Jasiński, Jakub, Łukasiak, Lidia, Jakubowski, Andrzej, Kim, Do-Kywn, Kim, Dong-Seok, Hahm, Sung-Ho, Lee, Jung-Hee, Szczepanski, Pawel, Kisiel, Ryszard, Romaniuk, Ryszard S.

Année:

2013

Langue:

english

Fichier:

PDF, 364 KB

english, 2013

9

SPIE Proceedings [SPIE Electron Technology Conference 2013 - Ryn, Poland (Tuesday 16 April 2013)] Electron Technology Conference 2013 - Nanostructures applied to bit-cell devices

Kołodziej, Andrzej, Łukasiak, Lidia, Kołodziej, Michał, Szczepanski, Pawel, Kisiel, Ryszard, Romaniuk, Ryszard S.

Année:

2013

Langue:

english

Fichier:

PDF, 1.28 MB

english, 2013

10

SPIE Proceedings [SPIE Electron Technology Conference 2013 - Ryn, Poland (Tuesday 16 April 2013)] Electron Technology Conference 2013 - Modeling the current of a double-gate MOSFET with very thin active region taking into account mobility dependence on the transverse electric field

Łukasiak, Lidia, Majkusiak, Bogdan, Szczepanski, Pawel, Kisiel, Ryszard, Romaniuk, Ryszard S.

Année:

2013

Langue:

english

Fichier:

PDF, 500 KB

english, 2013

11

SPIE Proceedings [SPIE Electron Technology Conference 2013 - Ryn, Poland (Tuesday 16 April 2013)] Electron Technology Conference 2013 - Influence of series resistance determination on the extracted mobility in MOS transistors with Ge channel

Jasiński, Jakub, Łukasiak, Lidia, Jakubowski, Andrzej, Casteleiro, Catarina, Whall, Terry E., Parker, Evan H., Myronov, Maksym, Leadley, David R., Szczepanski, Pawel, Kisiel, Ryszard, Romaniuk, Ryszar

Année:

2013

Langue:

english

Fichier:

PDF, 761 KB

english, 2013

12

Elimination of the channel current effect on the characterization of MOSFET threshold voltage using junction capacitance measurements

Tomaszewski, Daniel, Głuszko, Grzegorz, Łukasiak, Lidia, Kucharski, Krzysztof, Malesińska, Jolanta

Journal:

Solid-State Electronics

Année:

2016

Langue:

english

Fichier:

PDF, 4.27 MB

english, 2016

13

SPIE Proceedings [SPIE Electron Technology Conference ELTE 2016 - Wisla, Poland (Sunday 11 September 2016)] Electron Technology Conference 2016 - Simulation of electrical characteristics of GaN vertical Schottky diodes

Swatowska, Barbara, Maziarz, Wojciech, Pisarkiewicz, Tadeusz, Kucewicz, Wojciech, Łukasiak, Lidia, Jasiński, Jakub, Jakubowski, Andrzej

Année:

2016

Langue:

english

Fichier:

PDF, 643 KB

english, 2016

14

SPIE Proceedings [SPIE Electron Technology Conference ELTE 2016 - Wisla, Poland (Sunday 11 September 2016)] Electron Technology Conference 2016 - Modeling high-frequency capacitance in SOI MOS capacitors

Swatowska, Barbara, Maziarz, Wojciech, Pisarkiewicz, Tadeusz, Kucewicz, Wojciech, Łukasiak, Lidia, Jasiński, Jakub, Beck, Romuald B., Ikraiam, Fawzi A.

Année:

2016

Langue:

english

Fichier:

PDF, 344 KB

english, 2016

15

[IEEE 2017 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS) - Athens, Greece (2017.4.3-2017.4.5)] 2017 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS) - FDSOI MOSFET threshold voltage characterization based on AC simulation and measurements

Tomaszewski, Daniel, Gluszko, Grzegorz, Kucharski, Krzysztof, Malesinska, Jolanta, Lukasiak, Lidia

Année:

2017

Langue:

english

Fichier:

PDF, 2.54 MB

english, 2017

16

Guest Editorial

Knoch, Joachim, Lemme, Max C., Beck, Romuald B., Lukasiak, Lidia

Journal:

IEEE Journal of the Electron Devices Society

Année:

2020

Fichier:

PDF, 175 KB

2020